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線(xiàn)性光耦合器和环路增益“陷阱”
線(xiàn)性光耦合器和环路增益“陷阱”
我正在检查的電(diàn)源在其反馈路径中使用(yòng)光耦合器来控制其输出電(diàn)压。这是一种常见且成熟的设计方法,但反馈回路的无条件回路稳定性并不完全确定。
我决定以两种方式测量光耦合器的传递函数,如下所示。我知道该器件的数据表提供了这种特性,但我想亲自了解一下(图 1)。
图 1光耦合器传递函数测试设置。
1.33k 和 150 ohm 電(diàn)阻恰好在手边方便,所以我使用(yòng)了它们。一对 1k 和 100 ohm 也足够了,但那一刻我只是不想翻找。
这两个测试结果似乎确实证实了数据表的介绍(图 2)。
图 2光耦合器传递函数测试结果。
图 2 的上部迹線(xiàn)与图 1 的上部草(cǎo)图相配,下部迹線(xiàn)与下部草(cǎo)图相配。注意到两个测试结果的对称性令人欣慰。然而,经过一些心理(lǐ)反思,我意识到有(yǒu)一个回路增益陷阱需要注意。
使用(yòng)图 2 的下部轨迹并测量传递函数斜率,我们看到以下内容(图 3):
图 3传递函数的特写检查。
光耦合器的“線(xiàn)性”特性不能(néng)太从字面上理(lǐ)解。设备的传递函数不会切换或类似的东西,但输出与输入的一阶导数,即输出与输入的斜率,会随着您放置设备工作 Q 点的位置而变化。我检查的设备的可(kě)变性接近 19 dB。
如此大的增益变化可(kě)能(néng)会对反馈回路的整體(tǐ)传递函数产生“跺脚”效应,可(kě)能(néng)会将边缘稳定的反馈回路推入条件不稳定状态。
所有(yǒu)这一切的注意事项是确保检查您為(wèi)自己选择的任何光耦合器的真实斜率以及您选择设置其 Q 点的位置。