電(diàn)路板设计以实现在線(xiàn)可(kě)测试性

2020-06-15

如今，電(diàn)子制造中可(kě)以使用(yòng)多(duō)种类型的電(diàn)路板测试，每种测试都有(yǒu)其独特的目标和特征。

当為(wèi)您的设计开发在線(xiàn)测试（ICT）夹具时，可(kě)以使用(yòng)以下清单。这些准则不涉及飞行探针测试仪，自动光學(xué)检查（AOI）工具，X射線(xiàn)或边界扫描技术。

原理(lǐ)图的可(kě)测试性清单

可(kě)以在原理(lǐ)图级别使用(yòng)以下几种技术，以实现可(kě)测试性并提高测试的可(kě)靠性：

使用(yòng)单独的上拉或下拉電(diàn)阻将IC控制線(xiàn)绑在高電(diàn)平或低電(diàn)平

使用(yòng)单独的上拉或下拉電(diàn)阻将未使用(yòng)的输入拉高或拉低

包含禁用(yòng)时钟的方法（可(kě)以使用(yòng)跳線(xiàn)，三态缓冲器或启用(yòng)振荡器行（如果可(kě)用(yòng)）来实现）

提供可(kě)编程逻辑设备（PLD），专用(yòng)集成電(diàn)路（ASIC）和其他(tā)自定义设备的禁用(yòng)方法

為(wèi)总線(xiàn)设备，大電(diàn)流设备，闪存，EEPROM和D / A转换器提供“禁用(yòng)方法”

提供禁用(yòng)数字反馈环路的電(diàn)路

提供一种禁用(yòng)板上PROM的方法

将上電(diàn)复位電(diàn)路与其他(tā)数字電(diàn)路隔离

PCB布局级别的可(kě)测试性清单

组件和测试点与板边缘的距离至少為(wèi)3.2毫米（0.125）（最好為(wèi)3.8毫米或0.150英寸）。

至少在相对的角上提供至少两个未電(diàn)镀的3.2毫米（0.125）直径的加工孔，并在其周围留出3.2毫米的环形區(qū)域，使其无部件和测试点。考虑使用(yòng)“键控”模式，以使板子不能(néng)向后插入。

双面测试夹具更昂贵，因此请尝试将所有(yǒu)测试点放在電(diàn)路板的一侧，通常是電(diàn)路复杂度最低的底部或一侧。如果必须将板的顶部用(yòng)于探针位置，则仅将顶部用(yòng)于非关键网络。将时钟，控制引脚，编程引脚，串行数据和边界扫描的测试点放在底部。

测试点位置可(kě)以是通孔引線(xiàn)，专用(yòng)焊盘或小(xiǎo)直径通孔，但请避免将测试点放置在表面安装焊盘或镀金边缘指上。不要将较大的通孔直径用(yòng)作测试探针的位置。通孔尺寸应為(wèi)0.36 mm（.014）或更小(xiǎo)。

為(wèi)了实现100％的可(kě)测试性，请為(wèi)每个网络至少提供一个测试垫。

在与关键的低阻抗设备相连的网络上提供两个焊盘（四線(xiàn)开尔文(wén)测试）。

提供2-10个用(yòng)于主電(diàn)源的探针位置，并為(wèi)每个隔离的電(diàn)源/接地网至少提供两个测试点。对于主要地面，请提供许多(duō)探针位置，每二十个地面考虑一个测试点，或每平方英寸至少考虑一个栅格。

最好使用(yòng)焊盘直径為(wèi)1.0毫米（.040）的探头位置，可(kě)接受的直径為(wèi)0.9毫米（.035），如果可(kě)以使用(yòng)工具孔进行对准，则可(kě)以使用(yòng)0.8毫米（.031），但是较小(xiǎo)的直径会降低触点的可(kě)重复性。

尝试以至少2.5mm（.100）的中心间距将探针位置隔开。实际上，许多(duō)人将间距為(wèi)1.8毫米（.070）的0.9毫米（.035）焊盘视為(wèi)标准件。可(kě)能(néng)存在更近的间距，但将需要使用(yòng)更薄，更不可(kě)靠和更昂贵的探针。

测试点应均匀分(fēn)布在電(diàn)路板上。拥挤區(qū)域的高应力可(kě)能(néng)导致電(diàn)路板翘曲。

将高大的组件放在未被探测的那一侧。必须在被测侧的组件高度超过6.4毫米（0.255）的地方切出稿台。对于这些，测试点应保持至少5.0毫米（.200）的距离。

对于高于2.6毫米（.100）的组件，请保持至少2.0毫米（.080）的间隙。对于所有(yǒu)其他(tā)组件，使测试垫与组件主體(tǐ)之间的边缘至少保持1.0 mm（.040）的距离。

如果将组件通孔用(yòng)于测试探针的位置，请确保引線(xiàn)足够坚固以承受压力（请小(xiǎo)心使用(yòng)LED或某些类型的变压器）。另外，请确保所有(yǒu)版本的装配體(tǐ)上都存在PTH引線(xiàn)（没有(yǒu)填充）。

如果设计是面板式的，除导轨上的工具孔外，还应尝试在每块板上至少包含一个工具孔。

使用(yòng)现有(yǒu)的ICT装置修改设计

测试夹具非常昂贵，但是通常可(kě)以修改现有(yǒu)夹具以适应修订版本，而不必开发新(xīn)的。 
如果可(kě)以使用(yòng)现有(yǒu)的灯具，则遵循以下准则将使其更容易，更快且更便宜：

请勿移动工具销孔。

除非绝对必要，否则请勿移动测试点。

不要将新(xīn)测试点放在现有(yǒu)测试点的0.100英寸范围内（或从要移除的测试点开始）。

不要重命名现有(yǒu)组件。

不要使用(yòng)与已删除的组件相同的名称来命名新(xīn)组件。

如果网络上的连接已更改，请重命名网络。

如果网络拆分(fēn)為(wèi)两个或多(duō)个网络，请不要重复使用(yòng)旧网络名称。创建新(xīn)的网络名称。

即使原始测试点的直径较小(xiǎo)，也应尝试将新(xīn)测试点的直径增加到0.040英寸，以确保可(kě)靠的接触。（当夹具供应商(shāng)在现有(yǒu)夹具中重新(xīn)钻探探头插座的孔时，准确度与原始固定装置的制造时间相同。）